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2017
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最新半导体测试解决方案,3月SEMICON China 盛大展出
2017/03/08

海天彩票为精密电子量测仪器、自动化测试系统、智能制造系统与全方位Turnkey测试及自动化解决方案领导厂商,将于3月SEMICON China 推出最新半导体测试解决方案,以因应IoT晶片市场的蓬勃发展。

Chroma 3680全方位高精度/高效能SoC测试系统,拥有最高可达1Gbps的资料速率(data rate)、平行测试更多待测物的能力及符合数位及类比IC的测试应用需求。应用范围包含微控制器(MCU)、数位音讯(Digital Audio)、数位电视(Digital TV,DTV)、机顶盒(Set-Top Box)、数位信号处理器(DSP)、网路处理器(Network Processor) 、现场可程式逻辑门阵列(Field Programmable Gate Array,FPGA)及消费性电子IC应用市场等测试方案。

Chroma 3680 全方位高精度/高效能SoC測試系統
▲Chroma 3680 全方位高精度/高效能SoC测试系统

Chroma 33010 PXIe Digital IO Card,Chroma除提供传统之测试系统Chroma 3380D 256通道与Chroma 3380P 512通道外,也在今年正式提供自动测试系统(ATE)功能PXIe 架构之DIO- Model 33010,符合PXI 测试方案发展应用之趋势及需求,以因应未来更小IC通道及愈趋复杂功能之趋势,尤其在IoT 及汽车电子IC测试上, PXI/PXIe架构在半导体测试无论在应用多变和弹性上都有一定优势。应用范围包含微控制器(MCU)、微机电(MEMS) 、射频IC(RF IC) 及电源IC (PMIC) 等测试方案。

Chroma 33010 PXIe Digital IO card
▲ Chroma 33010 PXIe Digital IO card

Chroma 3260C 三温IC测试分类机具备优异的温度性能表现,温度范围从-40℃~125℃,利用Nitro TEC的技术,做到快速DTC的功能;并可供多组Module Board平行测试,1至6个测试座并可符合多种封装类型(QFP、TQFP、 μBGA、PGA 及CSP)。 Chroma 3260C可快速更换待测产品,大幅缩短停机时间,提高使用效率及产能。应用范围为车联网及云端相关概念产业IC元件。


▲ Chroma 3260C 三温IC测试分类机

Chroma 3111迷你桌上型单站测试分类机适用于工程实验阶段系统功能检测,同时具备终端电性测试能力,支援各种不同类型的封装晶片,晶片尺寸从 5x5mm 到 45x45mm。 Chroma 3111具备远端网路控制功能,透过软体设定JEDEC料盘的分配及工程测试,在60cm2 的空间发挥最大的效用以节省时间和成本。


▲ Chroma 3111迷你桌上型单站测试分类机 

Chroma半导体测试设备整合MP5800 射频(RF) ATE测试专用机,涵盖6GHz测试范围,提供4/8 RF Port及120MHz 频宽。应用范围包含WiFi/BT/GPS…等IoT应用及RF元件测试( PA/LNA/Converter..等),达到RF/Digital全方位ATE(CP/FT/SLT)测试解决方案。

MP5800 RF ATE測試專用機
▲ MP5800 RF ATE测试专用机 

Chroma半导体测试解决方案亦提供丰富的软体套件以符合不同测试应用。

2017 SEMICON China (3月14-16日),将于上海新国际博览中心(SNIEC)(摊位号: 3635)展出最新的半导体测试解决方案,我们诚挚的邀请您一同体验量测新趋势,期待在此年度盛会中与您见面。