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2009
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提供客户全系列LED测试解决方案
2009/06/05

LED制程测试设备于台北国际光电周LED展区完整展出

国内量测仪器大厂于今年台北国际光电周LED展区,针对当今最热门的LED产业推出全系列LED制程测试解决方案。由于LED具备轻巧、节能、环保、耐用、高亮度等多种优异特性下,逐渐在各个产业的应用上崭露头角。以LED的制程来说,从上游的磊晶(EPI)、中游的晶粒(Chip Process)、到下游的封装(Package),即可完成一个LED模块,目前有多样化光源应用于信息显示、光源、照明、通讯传输、遥控感测等功能应用上,市场规模相当庞大,致茂提供全系列LED测试解决方案,替客户降低制造成本、提高竞争力。

所研发的LED测试设备可应用于上、中、下游模块测试,包含有对晶粒的电性、光学及静电放电(ESD)测试,可结合点测机(LED Wafer/Chip Prober)的人性化操作接口,轻松快速地检测LED芯片及晶粒。另外,今年致茂也特别针对目前最热门之LED背光源(LED Backlight)当中之关键零组件LED Light Bar 与LED TV使用的LED Light Board的量测上亦有推出全系列光学与电性量测机种。

在下游产业LED驱动器(Driver)是用来驱动LED的电源供应器,海天彩票为符合LED的发光特性,LED Driver设计成固定的电流源,与一般切换式电源供应器(SMPS)功能特性不同。致茂秉持于电源测试领域的丰富经验,提供LED Driver的整体测试方案。包含输入端的可编程交/直流源、精准的数字功率表,并领先推出全世界第一台特殊为LED Driver输出拉载所设计的电子负载,独创LED拉载模式,克服了传统负载无法完全适用的缺点。致茂也发挥自动测试系统的整合能力,不仅可适用研发或品保单位做产品的详细验证,且可用于生产线一次测试多颗,满足大量生产的需求。

于今年台北国际光电周6月10~12日期间,假台北世贸展馆一馆完整展出(摊位号码A610等4个摊位),会中将展示LED一系列测试新产品,有LED测试系统、LED Wafer/Chip点测机、ESD测试系统、LED Light Bar/Board测试系统以及LED Driver测试….等。展会上将有实机展示,欢迎业界人士莅临指教,相关信息请参阅本公司网站﹕http://www.chromaate.com或电洽+886-3327-9999分机6113郑智毓先生。