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2012
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致茂满足您半导体激光产品测试需求
2012/08/24

Chroma 光通訊Laser Diod檢測設備

致茂满足您半导体激光产品测试需求

海天彩票为因应光通讯与云端应用等相关产业逐渐蓬勃发展,将于2012中国国际光电博览会(CIOE)推出最新开发的半导体激光测试解决方案。 

半导体激光并非全新产业,但在通讯、医疗、军事等方面极具应用性,与人类社会生活密不可分。有鉴于近年来因半导体激光于光通讯产业上的应用逐年提升,致茂运用其自动化测试设备上的经验与技术,提供业界完整半导体激光自动化烧机测试(Burn-In)自动化特性检测(Characterization)解决方案。 

有别于LED,一颗半导体激光的价格可能是LED的百倍至万倍不等,在过去,半导体激光厂商一直是以人工的方式进行激光特性的测试。激光的光谱、电性、温度特性都需要个别的工作站来完成,不仅在人工或时间都是一大花费,也无法保证待测物在测试的过程中保有完整性。为降低测试成本并提升生产良率,致茂利用共享治具(Carrier-Sharing)与更换治具(Change Kit)的概念,提供整套完整的烧机与特性测试机。未来,操作人员只需要于第一次作业将数十颗或数百颗昂贵的半导体激光放置于共享治具中,即可于烧机测试机中进行检测。当完成烧机检测后,可立即将共享治具取出,直接放入特性测试机中进行光谱、电性与温度的测试。所有执行过程中的条件(Recipe)都可依照客户需求事先作设定,并实时监控量测数据。此外,可依照待测物的不同型式与大小更换治具,不需再另购其他系统,更能有效降低成本。 

针对面射型激光(VCSEL),致茂这次提出的全新VCSEL广范围精密温控测试系统,主要应用于VCSEL晶圆检测,可在半导体激光晶圆 (wafer) 封装前进行特性测试与分类,此系统搭载致茂的Prober-Station与TEC温控平台,可快速制造-40℃到120℃的环境,并确保在无冷凝的环境下测试VCSEL光电特性随温度变化的情形。 

中国国际光电博览会将于9月6-9日期间举行,于深圳会展中心Hall 1-1115展区盛大展出,我们相信,您的莅临将会有全新的体验与意想不到的收获,期待在本年度盛会中与您见面。

联络人
苏沛芃 先生
Tel.: +886-3-3279999 #6112
e-mail: darren@chroma.com.tw

 

 
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